您现在的位置是:网站首页 > 应用案例>芯片整体扫描检测

芯片整体扫描检测

描述:应用案例七芯片整体扫描检测测量方法 ★扫描整颗IC,分析平面度,引脚平整度,站高等测量优势 ★自动补偿物品位置偏移,一键测量,可开发定制测量内容

简介

Introduction

应用案例七

芯片整体扫描检测

测量方法

    ★扫描整颗IC,分析平面度,引脚平整度,站高等


测量优势

    ★自动补偿物品位置偏移,一键测量,可开发定制测量内容

提交问询

Submission
→ 隐私条款

联系我们

Contact
联系我们
上海月步电子科技有限公司
网  址:www.shyuebu.com
地  址:上海市浦东新区沈杜公路118号118创意园10号楼407室