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芯片整体扫描检测
描述：应用案例七芯片整体扫描检测测量方法 ★扫描整颗IC，分析平面度，引脚平整度，站高等测量优势 ★自动补偿物品位置偏移，一键测量，可开发定制测量内容
简介
Introduction
应用案例七
芯片整体扫描检测
测量方法
★扫描整颗IC，分析平面度，引脚平整度，站高等
测量优势
★自动补偿物品位置偏移，一键测量，可开发定制测量内容
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地 址：上海市浦东新区沈杜公路118号118创意园10号楼407室
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